1. 질량분석법을 응용한 2차 이온 질량분석법(SIMS)에 대한 설명으로 틀린 것은?

  • 1
    고체 표면의 원자와 분자조성을 결정하는데 유용하다.

  • 2
    동적 SIMS는 표면 아래 깊이에 따른 조성 정보를 얻기 위하여 사용된다.

  • 3
    통상적으로 사용되는 SIMS를 위한 변환기는 전자증배기, 패러데이컵 또는 영상검출기이다.

  • 4
    양이온 측정은 가능하나 음이온 측정이 불가능한 분석법이다.
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